采用位置色差與色場彎曲匹配技術，取消了傳統輻射測溫儀表中的干涉濾光片，消除了因濾光片隨時間、溫度及濕度漂移造成的誤差，較大地提高了儀器的精度和穩定性，是輻射測溫領域中的一次重大突破。     采用擬合法，無需任何表面發射率信息和輔助設備，直接求得物體的真實溫度和光譜發射率。 儀器已出口意大利，并在航天科技集團四院燒蝕真溫和發射率測量中取得應用。 儀器于1993年榮獲國家級新產品稱號，1995年榮獲航天工業總公司科技進步二等獎。“多光譜輻射測溫技術研究”榮獲全國首屆百名優秀博士論文獎。 主要技術指標：     ① 測溫范圍：700K～5000K；     ② 測量精度：優于1%；     ③ 波長范圍：0.45～1.1μm；     ④ 波長數：>20個；     ⑤ 輸出方式：模擬或數字輸出。