XJP-H200系列正置金相顯微鏡用于觀察透明、半透明或不透明的物質。例如：金屬陶瓷、電子陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非金屬材料，應用于醫藥、農林、學校、科研部門作觀察分析使用，同時廣泛適用于電子、冶金、化工和儀器儀表行業。