XPL-3200偏光顯微鏡主要用于鑒別具有雙折射特性的物質，是藥理學、地質學和機械、冶金等部門用來研究結晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。產品采用優(yōu)良的無限遠光學系統，配置無應力長工作距離平場消色差物鏡與大視野目鏡，高精度偏光載物臺，優(yōu)良的偏振觀察附件等。可在透射偏光，透/反射偏光狀態(tài)下獲得高品質的顯微圖像，儀器造型美觀，結構穩(wěn)定，操作舒適方便，是廠礦企業(yè)、科研院所進行檢測、研究與教學的理想儀器。