晶體硅太陽(yáng)能電池的表面金屬歐姆接觸的好壞通過接觸電阻來反映。在太陽(yáng)能電池電極優(yōu)化中，接觸電阻是需要考量的一個(gè)重要方面。接觸電阻的大小不僅與接觸的圖形有關(guān)，還與擴(kuò)散工藝及接觸形成工藝有關(guān)。不同柵線圖形的歐姆接觸好壞可以通過接觸電阻率的大小來反映。因此，通過對(duì)接觸電阻率的研究計(jì)算可以反映擴(kuò)散、電極制作和燒結(jié)等工藝中存在的問題。但現(xiàn)在的測(cè)量方法存在測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)、效率低、精度差等缺陷，而又同時(shí)缺少一種專門測(cè)量太陽(yáng)能電池接觸電阻的測(cè)試設(shè)備，因此不利于太陽(yáng)能電池接觸電阻測(cè)量在產(chǎn)線上的應(yīng)用。本技術(shù)成果采用TLM法測(cè)量接觸電阻，結(jié)合電機(jī)平臺(tái)、攝像頭及計(jì)算機(jī)控制等技術(shù)已基本能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量和結(jié)果分析計(jì)算等功能。

　　市場(chǎng)預(yù)測(cè)：

　　本技術(shù)成果可應(yīng)用于電池生產(chǎn)廠家、銀漿生產(chǎn)廠家等與電池柵線工藝有關(guān)的企業(yè)，以便快速測(cè)量柵線接觸電阻檢測(cè)改進(jìn)工藝。目前還沒有成熟的本類產(chǎn)品，如能及早開發(fā)及產(chǎn)業(yè)化推廣，本技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品將在市場(chǎng)上占得先機(jī)。目前，實(shí)驗(yàn)室已制備出可以應(yīng)用的樣機(jī)，某些銀漿生產(chǎn)廠家已試用過并以測(cè)量結(jié)果作為參考改進(jìn)產(chǎn)品。希望投資者能有一定的資金且具有使產(chǎn)品更加規(guī)范化和商業(yè)化的能力。

　　知識(shí)產(chǎn)權(quán)及獲獎(jiǎng)情況：

　　具有核心技術(shù)，已獲發(fā)明專利授權(quán)。

　　合作方式：面議

　　聯(lián)系單位：中山大學(xué)科學(xué)研究院產(chǎn)學(xué)研合作處

　　聯(lián)系人：何健敏 章向宏

　　聯(lián)系電話:020-84113871

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